同步辐射吸收谱，也称X射线吸收精细结构（X-ray absorption fine structure，XAFS），一般用于反应样品中单个元素的价态情况、单个原子的配位环境、单个吸收原子的电子结构（轨道跃迁、杂化），是一种微观的、结构性判断的测试。

测试元素一般是金属元素（硬线）或者原子序数较小的非金属元素如C、N、O（软线）。是一种基于同步辐射光源、研究材料局域原子或电子结构的一种有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。

具体分类：

同步辐射吸收谱（XAS）

X射线吸收精细结构(X-ray absorption fine structure,XAFS)

X射线吸收谱(X-ray absorption spectroscopy,XAS)

同步辐射光源与传统X光射源的最大差异为可提供能量连续且高强度的光源，同时具有极佳的偏振性。利用此特点的代表技术即为X射线吸收能谱（X-ray absorption spectroscopy: XAS），分为两个观测范围：X射线近吸收边精细结构（XANES）及延伸X射线吸收精细结构（EXAFS）。

测试内容：

XAFS软线（100-1500eV）：如碳氮氧等元素XANES

中能 （2000-5000eV）：如磷硫氯钾钙等元素（XANES ，XANES+EXAFS）

硬线（5000-22,000eV）：如铁钴镍锌铂等元素 XANES+EXAFS

高能（22,000-33,000eV）：如钯钌银等元素XANES+EXAFS

原位测试：需要添加 电压、温度、气氛条件的XAFS。

同步辐射XAFS数据拟合分析

精准的对材料进行配位结构和电子结构解析

分析内容：

X射线吸收精细结构解析，可处理硬线及高能元素数据解析。结果包括 XANES、K空间拟合、R空间拟合、Wavelet Transform、配位信息表。

另外也可做LCF分析，近边计算等。

同步辐射XRD

同步辐射XRD与常规XRD表征一致，通过对材料进行X射线衍射，得到其衍射图谱，可获得材料的成分、内部原子或分子的结构或形态等信息。同步辐射光源自身具有光子高通量以及更高的准直性等优点，往往会得到更多、更强的衍射信号，这对后续的数据分析提供了更多的可能性。

同步辐射全散射PDF

同步辐射全散射PDF分析是一种物质结构研究方法，它可以通过同步辐射技术获取X射线或中子的全散射模式，从而得到物质的原子间距分布函数。同步辐射全散射PDF分析可用于研究材料科学、化学、生物学等领域。具有高分辨率、无需单晶体、非破坏性、多功能性等优点。

同步辐射散射测试（GIWAXS）

X光散射测试是分析X光作用待测物后的散射强度，辅以入射X光能量（波长）、散射角度等条件，用以了解待测物的晶体结构、化学组成及物理特性。其过程可外加温度、压力、腐蚀等不同条件，以达到对待测物的通盘了解。而掠角入射X光广角散射（GIWAXS），对于表面及薄膜内部的结构信息（如分子尺寸、分布、排列、有序性等），提供从纳米到微米尺度的结构解析。